汽車、航空航天、電子和制藥等行業(yè)制造的產(chǎn)品及其組件的性能、壽命和質(zhì)量可能對污染很敏感^[1,2]。產(chǎn)品中的異物可能會造成嚴(yán)重?fù)p壞，因此，這些行業(yè)通常遵循技術(shù)清潔度標(biāo)準(zhǔn)。隨著時間的推移，這些清潔度標(biāo)準(zhǔn)的要求會變得更加嚴(yán)格。還有一些例子，比如電動汽車，由于它的零部件來自多個行業(yè)，即汽車和電子零部件以及電池等，因此需要多個行業(yè)的技術(shù)清潔度標(biāo)準(zhǔn)。

根據(jù)產(chǎn)品制造商的需求，從顆粒提取到自動顆粒表征和分類，清潔度分析的工作流程可能涉及多種儀器。光學(xué)成像方法zuichangyong于顆粒表征^[1,2]。顆粒的快速化學(xué)/元素分析有利于識別污染源^[3]。制造商可以利用徠卡顯微系統(tǒng)和頗爾公司提供的合作來優(yōu)化整體清潔工作流程^[3]。

例如徠卡顯微系統(tǒng)的清潔度分析解決方案包括Emspira 3數(shù)碼顯微鏡、DM6 M顯微鏡、或使用清潔專家分析軟件的DM6 M LIBS二合一系統(tǒng)。

參考文獻(xiàn)：

1.Y. Holzapfel, J. DeRose, G. Kreck, M. Rochowicz, Cleanliness Analysis in Relation to Particulate Contamination: Microscopy based measurement systems for automated particle analysis, Science Lab (2014) Leica Microsystems.

2.N. Ecke, Basics in Component Cleanliness Analysis, Science Lab (2017) Leica Microsystems.

3.J. DeRose, K. Scheffler, Cleanliness Analysis with a 2-methods-in-1 solution: See the particles and know their composition at the same time, Science Lab (2019) Leica Microsystems.

4.N. Ecke, C. Goasdoué, Cleanliness Workflow from Leica and Pall: Free Webinar On-Demand, Science Lab (2017) Leica Microsystems.

Leica DM4 M & DM6 M 智能正置金相顯微鏡

徠卡DM6 M LIBS